Yeni Tracera GC Sistemi iz analiz gereksinimlerinizi çözecek. GC-2010 Plus kapiler gaz kromatograf ile yeni Barrier Discharge Ionization Detector (BID) teknolojisini birleştiren Tracera, başka GC dedektörleri ile tespiti zor olan iz bileşiklerin tespitini mümkün kılan bir GC sistemi olarak tasarlandı.
- Plazma tabanlı BID (Barrier Discharhe Ionization detector) teknolojisi ile iz bileşiklerin analizi
- Yüksek hassasiyet (TCD’nin 100, FID’nin 2 katı)
- 1 pg C/sn dedeksiyon limiti
BID teknolojisi kullanılarak gerçekleştirilen uygulamalardan bazıları:
- Yapay Fotosentez Araştırmalarında ortaya çıkan Reaksiyon Ürünlerinin Analizi
- Etilende İmpürite Analizi
- Lityum İyon Pil Gazının Analizi
Teknik Özellikler
İz Bileşik Analizler için Plazma Teknolojisi
Barrier discharge ionization dedektörü (BID), Helyum bazlı, dielektrik bariyer plazamadan iyonizasyon oluşturan son derece hassas bir araçtır. 17.7eV’lik plazma, göreceli olarak düşük bir sıcaklıkta, kuartz dielektrik hazneye yüksek voltaj uygulanarak oluşturulmaktadır.
GC kolonundan elüe olan bileşikler bu He plazma enerjisi ile iyonize olmakta, sonrasında da toplama elektrodu tarafından tespit edilerek pikler şeklinde proses edilmektedir.
BID Osaka Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Atomik ve Moleküler Teknolojiler Merkezi’nden Dr. Katsuhisa Kitano ile işbirliği halinde yürütülen çalışmaların sonucunda geliştirilmiştir ve 3 U.S. patent ve 4 patent başvurusu olan bir teknolojidir.
Dedektör Tipi
Dedekte Edilebilen Bileşikler
Barrier discharge ionization dedektör (BID)
Tümü (He ve Ne hariç)
Termal iletkenlik dedektörü (TCD)
Alev iyonizasyon dedektörü (FID)
Tümü (taşıyıcı gaz hariç)
Organik bileşikler (formaldehit ve formik asit hariç)