Kategori: X-Ray ve Optik Emisyon (EDX / XRF / XRD / PDA)

Shimadzu PDA-7000 yüksek performanslı optik emisyon spektrometre olup analizlerin doğruluğunu ve güvenirliliğini arttıran standart PDA metoduna dayanır. Demir metal ve demir içermeyen metal endüstrisinde kalite kontrol ve proses kontrol alanında analiz ve üretim gücünü destekler.

Windows tabanlı uygulama yazılımları ile kompakt tasarıma sahip genel kullanıma uygun çok fonksiyonlu bir sistemdir. XRD-6100, rutin kalitatif ve kantitatif analizlerden faz analizlerine kadar, stress analizi, kristalit boyutu/ latis parametleri, kristalinite hesaplama dahil geniş analiz ihtiyaçlarını kapsayan çözümler sunmaktadır.

XRF-1800, 500 μm minimum analiz alanında şekilsiz numunelerde element içeriği dağılımı ve intensite dağılım analizlerine fırsat verdiğinden lokal analiz ve standart özellik olarak 250 μm haritalandırma imkanı sağlar.

En son teknolojiye sahip EDX-7000/8000 modelleri yüksek performanslı Silikon Drift Dedektör (SDD) ile mükemmel hassasiyet ve yüksek çözünürlükte genel tarama analizlerinden ileri malzeme araştırmalarına kadar çok çeşitli uygulama alanına sahiptir.